心血管健康革命：支架表面冶金监测

        在心血管护理领域取得突破性进展的同时，Hiden Analytical Ltd自豪地宣布了一项用于治疗心脏病的关键设备的表面测量技术。Hiden Analytical利用最灵敏的表面分析技术——二次离子质谱法（SIMS），在支架技术的安全性、有效性和创新性方面制定了新标准。

        外科支架，通常是由不锈钢激光切割而成的线框支架，在保持狭窄的动脉畅通、确保血液不受阻碍地流过身体的重要通道方面发挥着至关重要的作用。通过导管插入这些支架，然后用小球囊扩张，对全世界无数患者来说是一种挽救生命的手术。然而，这些支架的性能和寿命在很大程度上取决于它们的表面状况。

        认识到支架表面的关键性质，Hiden Analytical利用SIMS来检查材料上自然形成的纳米厚的保护性二氧化铬层。这项使用铯离子轰击进行的细致分析揭示了某些消毒处理会使支架表面富含铁，易受腐蚀，这种情况可能导致支架失效、身体排斥反应和组织损伤。

        SIMS提供的无与伦比的检测极限（LOD）——能够识别ppm甚至ppb水平的物质——以及原子层深度分辨率，为医疗植入物的表征树立了新的基准。这种灵敏度与提高分析物体积的技术相结合，可以优化分析，平衡横向和深度分辨率，专注于支架性能的最关键方面。

详见如下介绍：

HAPR0238_Revolutionising Cardiovascular Health.pdf