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Hiden Compact SIMS 是一款设计紧凑、经济高效的第二代二次离子质谱仪，专为纳米尺度表面分析和深度剖析而开发。它结合了高性能SIMS分析能力与小型化、易操作的平台，适用于科研、教学以及工业生产线中的质量监控。
核心定位：小型 · 经济 · 高灵敏度 · 桌面式设计
体积小巧：占用空间小，适合标准实验台或移动推车使用。
经济实用：仅需单相电源（<10A，220V），无需特殊基础设施。
功能全面：支持正离子SIMS和SNMS模式。
纳米级分析：氧主离子枪，能量1-5 keV，束斑直径<50 µm。
3D成像与深度剖析：可重构3D元素分布图。
同位素分析能力：覆盖整个周期表。
自带软件：MASsoft Professional + SIMS Mapper，支持自动化分析和图像处理。
样品载量大：旋转样品台可同时装载10个样品。
太阳能电池薄膜结构分析
玻璃镀层成分深度剖析
金属薄膜杂质检测
半导体掺杂分布
纳米材料表面成像
腐蚀研究
催化材料表征
教学与实验室演示
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