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MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子,所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面,应用于SIMS和SNMS的光学采样。
·光栅控制,增强深度分析能力
·质量数范围: 300amu,500amu,1000amu ·检测器: 离子计数探测器、正负离子探测器、107 cps ·质量过滤器: 3F四级杆 ·杆直径: 9mm ·最高加热: 250℃ ·离子源: 电子轰击,可用于SNMS和RGA的单根灯丝 MAXIM - Quadrupole SIMS Analyser (562 KB) AP0128 - Magnesium Nitride Phase Formation Through New Ion Beam Implantation Technique (406 KB) |