您好,欢迎进入 北京英格海德分析技术有限公司网站!

010-5272-2415/6/7/8
当前位置:首页  >  产品中心  >  等离子体-材料表面
  • 铯离子枪
    铯离子枪

    The IG5C features a low power, high brightness, surface ionisation source coupled to a compact ion column, providing high performance in a small package.

    更新时间:2020-11-23型号:IG5C浏览量:106
    查看详情
  • 二次离子/溅射中性粒子质谱仪
    二次离子/溅射中性粒子质谱仪

    The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mass spectrometer for positive and negative, static, dynamic and neutral analytical applications.

    更新时间:2020-11-23型号:浏览量:118
    查看详情
  • 二次离子质谱探针
    二次离子质谱探针

    EQS 是差式泵式二次离子质谱(SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe),可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。采用最新技术的SIMS 探针,便于连结到现有的UHV表面科学研究反应室。

    更新时间:2020-11-23型号:EQS浏览量:100
    查看详情
  • 二次离子质谱工作站
    二次离子质谱工作站

    Hiden SIMS二次离子质谱工作站提供高性能静态和动态 SIMS 分析,用于的表面成份分析和深度剖析。

    更新时间:2020-11-23型号:SIMS浏览量:512
    查看详情
  • 超高真空TPD工作站
    超高真空TPD工作站

    TPD 工作站配备多端口 UHV 室,配有加热样品台,与高精度三重过滤质谱仪相结合,配有脉冲离子计数检测器,可实现超过灵敏度和时间分辨率。

    更新时间:2020-11-23型号:TPD Workstation浏览量:123
    查看详情
  • 等离子体刻蚀终点检测仪
    等离子体刻蚀终点检测仪

    The IMP-EPD is a differentially pumped, ruggedised secondary ion mass spectrometer for the analysis of secondary ions and neutrals from the ion beam etch process.

    更新时间:2020-11-23型号:IMP-EPD 浏览量:106
    查看详情
14 个  每页 6 个  首页  上一页 123 下一页 尾页 第 2 页

全国统一服务电话

010-5272-2415/6/7/8

电子邮箱:Info@hiden.cn

公司地址:北京市海淀区四季青路8号郦城工作区235室

扫码加微信

TEL:18610082868

扫码加微信